我們相信優(yōu)質的產品是信譽的保證!
晶圓方阻測試儀
硅片方阻測試儀
晶錠方阻測試儀
渦流法電阻率測試儀
遷移和少子
致力于成為優(yōu)秀的解決方案供應商!
無損方塊電阻測試儀的優(yōu)勢體現(xiàn)在哪些方面?
非接觸電阻率測試儀:電氣材料特性的新一代測量工具
硅片電阻率測試儀的維護工作涉及到的方方面面
九域半導體科技通過知識產權貫標
非接觸電阻率測試儀的使用指南,不可錯過
產品中心/ products
晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產和品質監(jiān)控,提供一整套完整測試和解決方案。
主營產品:晶圓方阻測試儀、晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,測試硅片,碳化硅、科研大學提供服務。
與我們產生合作,還原您產品藍圖里應有的樣子!
產品中心
新聞中心
關于我們
聯(lián)系方式
歡迎您的咨詢我們將竭盡全力為您用心服務
掃碼添加微信
掃碼關注我們
Copyright ©2025 九域半導體科技(蘇州)有限公司 All Rights Reserved 備案號:蘇ICP備2023057191號-2
技術支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml
TEL:13739170031